17th Internatinal Conference on non-contact Atomic Force Microscopy (NC-AFM2014)

概要

  • 日程:2014年8月4日~8日
  • 会場:つくば国際会議場, つくば
  • 参加者:長教授,山末助教,鈴木(M2)
  • 以下の3件のタイトルの発表を行いました
    1. Noncontact scanning nonlinear dielectric microscopy study of graphene on 4H-SiC(0001) and its hydrogen-intercalation
    2. Surface potentiometry based on scanning nonlinear dielectric microscopy
    3. Observation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface by using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy

写真レポート

会場

会場

ポスター発表中の鈴木君

山末助教

JAXAに行きました

こうのとり

日本の宇宙開発技術はアメリカの100分の1です.