概要
- 日程：2014年9月29日〜10月2日
- 会場：Technische Universitat Berlin, Berlin, Germany
- 参加者：長教授,茅根（D1)
- 以下のタイトルの発表を行いました
- High resolution imaging of dopant and depletion layer distributions in SiC power MOSFET using sper-hgher-order nonliear dielectric micoscopy
写真レポート
ブランデンブルク門前にて．東西ドイツに別れていた時にはここにベルリンの壁がありました．
ペルガモン博物館を尋ねたが２時間待ちで断念
旧東ベルリンのテレビ塔
ベルリンの熊
ウンター・デン・リンデンとブランデンブルク門
ベルリン大空輸に使われた米国製輸送機
学会会場
発表風景
ドレスデンの虹（ドレスデンの NaMLabで長教授が講演）
ドレスデン大空襲から再建された教会
茅根君初めてのドイツ訪問でした．