概要
- 日程：2014年11月12日−14日
- 参加者：茅根（D1）
- 会場：ライフサイエンスセンター（大阪,千里中央）
- 下記のタイトルで研究発表を行いました
- Depletion layer distribution analysis in cross-section of biased SiC-DMOSFET using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy
写真レポート
会場の写真
今年も来ました．
質問やコメントをくださった方々，誠にありがとうございました．