International Symposium for Testing and Failure Analysis 2015 (ISTFA 2015)

概要

  • 日程:2015年11月1日~11月5日
  • 会場:Oregon Convention Center, Portland, OR, U.S.A.
  • 参加者:長教授,茅根(D2),廣瀬(M1)
  • 以下のタイトルの2件の発表を行いました
    1. Carrier Redistribution Analysis of Gate-Biased SiC Power MOSFET Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
    2. Observation of Polarization and Two Dimensional Electron Gas in AlGaN/GaN Heterostructure Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy

写真レポート

成田空港でくつろぐ廣瀬君

ポートランドの橋の上で

ポスター発表(廣瀬君)

ボディラングエッジも英会話の内

ポスター発表(茅根君)

ポスターの合間で

オレゴン科学産業博物館で喜々として遊ぶD2

オレゴン科学産業博物館の目玉(潜水艦)

潜水艦内部とMr. Submarine

魚雷発射管

潜水乗組員(1)

潜水艦乗組員(2)

来年は米国Fortworthで開催されます.