概要
- 日程:2016年06月07日-06月11日
- 会場:野依カンファレンスホール(名古屋大学),名古屋
- 参加者:茅根
- 発表:
- An Universal Parameter Showing SiO2/SiC Interface Quality of Both Silicon and Carbon-face based on Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy (Oral)
- 2-Dimensional Local Deep Level Transient Spectroscopy Imaging of Thermally Oxidized Silicon-Face SiC wafers using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy (Oral)
初日から最終日午前まで
会場までの道中,名大のキャンパス内を見ているとノーベル賞関連のものが目立ちました.
ノーベル賞を記念した建物や記念樹です.
最終日午後
時間が合ったので少し観光してきました.
名古屋城
名古屋市役所.素晴らしく立派な建物です.