概要
- 日程:2016年9月25日-9月29日
- 会場:Porto Carras Grand Resort, Halkidiki, Greece
- 参加者:長教授
- ECSCRM 2016に参加し下記の2件の発表を行いました.
- Two-dimensional imaging of trap distribution in SiO2/SiC interface using local deep level transient spectroscopy based on super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy
- Universal parameter evaluating SiO2/SiC interface quality based on scanning nonlinear dielectric microscopy
写真レポート
会場のPorto Carras Grand Resort Olympic Hall
会場のPorto Carras Grand Resort
SiC研究の大家の米澤先生と新人研究者
若手研究者
エーゲ海の水は透明です
エーゲ海のウニは現地の人は食べません
エーゲ海の夕焼け
エーゲ海の日没
来年はICSCRM2017としてWashington,DCで開催.