Microscopy of Semiconducting Materials XX(MSM XX)

概要

  • 日程:2017年4月9日-4月13日
  • 会場:Lady Margaret Hall, Oxford , UK
  • 参加者:長教授
  • MSM XXに参加し下記の発表を行いました.
  • Local deep level transient spectroscopy for two-dimensional trap distribution in MOS interface using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy

写真レポート

会場の旅の途中で立ち寄ったロンドンのScience Museum

Science Museum内最古の蒸気機関車

Science Museumに展示されている日野コンテッサ

イクスカーションのGHOST TRAILS

いかにもイギリス紳士

発表中に肉離れを起こしロンドンの病院へ.