概要
- 日程:2018年5月8日~2018年5月11日 & 2018年5月13日~2018年5月16日
- 会場:Arizona State University, Tempe, AZ, U.S.A. & Anaheim Convention Center, Anaheim, CA, U.S.A.
- 参加者:長教授
- ISPM2018にて以下の講演を行いました
- Scanning nonlinear dielectric microscopy in peak-force tapping mode and its application to transition metal dichalcogenides
- 引き続きTechConnect World Innovation Conference & Expo.にて以下の講演を行いました
- Quantitative measurement of active dopant density distribution in textured emitter of phosphorus-implanted monocrystalline silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy