概要
- 日程：2018年10月1日~2018年10月5日
- 会場：Aalborg Kongres & Kultur Center, Aalborg, Denmark
- 参加者：長教授
- ESREF20182018にて以下の講演を行いました
- High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy
写真レポート
ESREF2018の会場のAalborg Kongres & Kultur Center
開会式
参加者の国別情報．中国が圧倒的です．このままで良いのか日本
オールボー市内の築400年の居酒屋
ESREF2018のエクスカーションで訪れたデンマークの古城（１）
古城（２）
ISPM2018のエクスカーションで
バンケットの一コマ
次回はフランスToulouseで開催