概要
- 日程：2019年7月2日~2019年7月5日
- 会場：TGRAND HYATT HANGZHOU, 杭州市, 中国
- 参加者：長教授
- IPFA2019に参加しまして以下の発表をおこないました．
- High Resolution Mapping of Defects at SiO2/SiC Interfaces by Local-DLTS Based on Time-Resolved Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy
写真レポート
IPFA2019の看板
世界遺産の杭州市の西湖
次回はまたシンガポールで開催されます．