概要
- 日程:2014年9月29日〜10月2日
- 会場:Technische Universitat Berlin, Berlin, Germany
- 参加者:長教授,茅根(D1)
- 以下のタイトルの発表を行いました
- High resolution imaging of dopant and depletion layer distributions in SiC power MOSFET using sper-hgher-order nonliear dielectric micoscopy
写真レポート
ブランデンブルク門前にて.東西ドイツに別れていた時にはここにベルリンの壁がありました.
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ペルガモン博物館を尋ねたが2時間待ちで断念
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旧東ベルリンのテレビ塔
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ベルリンの熊
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ウンター・デン・リンデンとブランデンブルク門
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ベルリン大空輸に使われた米国製輸送機
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学会会場
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発表風景
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ドレスデンの虹(ドレスデンの NaMLabで長教授が講演)
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ドレスデン大空襲から再建された教会
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茅根君初めてのドイツ訪問でした.