概要
- 日程:2016年9月25日-9月29日
- 会場:Porto Carras Grand Resort, Halkidiki, Greece
- 参加者:長教授
- ECSCRM 2016に参加し下記の2件の発表を行いました.
- Two-dimensional imaging of trap distribution in SiO2/SiC interface using local deep level transient spectroscopy based on super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy
- Universal parameter evaluating SiO2/SiC interface quality based on scanning nonlinear dielectric microscopy
写真レポート
会場のPorto Carras Grand Resort Olympic Hall
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会場のPorto Carras Grand Resort
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SiC研究の大家の米澤先生と新人研究者
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若手研究者
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エーゲ海の水は透明です
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エーゲ海のウニは現地の人は食べません
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エーゲ海の夕焼け
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エーゲ海の日没
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来年はICSCRM2017としてWashington,DCで開催.