International Symposium for Testing and Failure Analysis(ISTFA)

概要

  • 日程:2016年11月6日-11月10日
  • 会場:Fort Worth Convention Center, Fort Worth, TX, USA
  • 参加者:長教授
  • ISTFA 2016に参加し下記の発表を行いました.
  • Two-dimensional local deep level transient spectroscopy imaging using super-higher-order scanning nonlinear dielectric microscopy

写真レポート

会場のFort Worth Convention Center(米国の会議場はどこも巨大です)

会場外観

会場内1

会場内2

The Sixth Floor Museum(元Texas School Book Depository)

ケネディが狙撃された場所

来年はISTFA2017としてPasadenaで開催.