The 17th International Conference Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors(DRIPXVII)

概要

  • 日程:2017年10月8日~10月12日
  • 会場:Hotel Olid, Valladolid, Spain
  • 参加者:長教授
  • DRIPXVIIにて以下のタイトルの発表を行いました
  • Two-dimensional imaging of MOS interface trap using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy

写真レポート

マドリッドの王宮

王宮内部

バリャドリッドの彫刻博物館

バリャドリッド大学

ワインの醸造所

説明のお姉さん

郊外のお城

お城の夜景

次回は2年後ベルリンの予定です