概要
- 日程：2017年12月6日-12月9日
- 会場：Bahia Resort Hotel, San Diego, CA, U.S.A.
- 参加者：長教授
- IEEE SISCに参加し下記の発表を行いました．
- Quantitative imaging of MOS interface trap using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy
写真レポート
Bahia Resort Hotelからの景色
オープニングセレモニー
カンファレンスバンケットはクルーズ船中で開催されました
来年度も同じサンディエゴで開催予定．