概要
- 日程:2017年12月6日-12月9日
- 会場:Bahia Resort Hotel, San Diego, CA, U.S.A.
- 参加者:長教授
- IEEE SISCに参加し下記の発表を行いました.
- Quantitative imaging of MOS interface trap using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy
写真レポート
Bahia Resort Hotelからの景色
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オープニングセレモニー
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カンファレンスバンケットはクルーズ船中で開催されました
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来年度も同じサンディエゴで開催予定.