International Scanning Probe Microscopy (ISPM2018) & TechConnect World Innovation Conference & Expo.

概要

  • 日程:2018年5月8日~2018年5月11日 & 2018年5月13日~2018年5月16日
  • 会場:Arizona State University, Tempe, AZ, U.S.A. & Anaheim Convention Center, Anaheim, CA, U.S.A.
  • 参加者:長教授
  • ISPM2018にて以下の講演を行いました
  • Scanning nonlinear dielectric microscopy in peak-force tapping mode and its application to transition metal dichalcogenides

  • 引き続きTechConnect World Innovation Conference & Expo.にて以下の講演を行いました
  • Quantitative measurement of active dopant density distribution in textured emitter of phosphorus-implanted monocrystalline silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy

写真レポート

ISPM2018の会場のArizona State University

会場入口

発表中の金沢大学福間教授

ASUのフーコ振子

ISPM2018のエクスカーションにて

ISPM2018のエクスカーションにて・グランドキャニオン

グランドキャニオンのリス

引き続きAnaheimへ移動してTechConnect World Innovation Conference & Expo.に参加

アナハイムのエンジェルス球場