概要
- 日程:2018年10月1日~2018年10月5日
- 会場:Aalborg Kongres & Kultur Center, Aalborg, Denmark
- 参加者:長教授
- ESREF20182018にて以下の講演を行いました
- High resolution observation of defects at SiO2/4H-SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy
写真レポート
ESREF2018の会場のAalborg Kongres & Kultur Center
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開会式
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参加者の国別情報.中国が圧倒的です.このままで良いのか日本
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オールボー市内の築400年の居酒屋
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ESREF2018のエクスカーションで訪れたデンマークの古城(1)
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古城(2)
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ISPM2018のエクスカーションで
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バンケットの一コマ
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次回はフランスToulouseで開催