International Symposium for Testing and Failure Analysis (ISTFA2018), Phoenix, Arizona, USA

概要

  • 日程:2018年10月28日~11月1日
  • 会場:Phoenix Convention Center, Phoenix, Arizona, USA
  • 参加者:長, 広田さん(東芝メモリ)
  • 以下の3件の発表を行いました
    1. Quantitative imaging of carrier distribution in silicon solar cell using scanning nonlinear dielectric microscopy
    2. High resolution mapping of subsurface defects at SiO2/SiC interfaces by time-resolved scanning nonlinear dielectric microscopy
    3. Novel carrier measurement methodology for floating gate of sub-20 nm node flash memory using scanning nonlinear dielectric microscopy

写真レポート

ISTFA2018の会場のPhoenix Convention Center

アンテロープキャニオン アッパー渓谷 鉄砲水でできた渓谷です

アンテロープキャニオン ロアー渓谷

次回のISTFA2019はPortlandで開催されます.