50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)

概要

  • 日程:2019年12月12日〜12月14日
  • 会場:Bahia Resort Hotel, サンディエゴ,アメリカ合衆国
  • 参加者:長, 山末
  • 以下のポスター発表を山末が行いました
    1. K. Suzuki, K. Yamasue, and Y. Cho, A new evaluation technique for interface defect density on high-κ/SiO2/Si and SiO2/Si gate stacks using scanning nonlinear dielectric microscopy
    2. A. Hosaka, K. Yamasue, J. Woerle, G. Ferro, U. Grossner, M. Camarda, and Y. Cho, Interface defect density evaluation on macrostepped SiO2/SiC using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy

写真レポート

サンディエゴ都心部

諸事情で急遽参加することに.実は西海岸は初めてだったりします.

学会会場

学会会場からの光景.リゾート地です.

海軍基地

軍港でもありました.

海岸

会場近辺の砂浜.西海岸といえばこんなイメージかも.

フラッグ

左は水泳,右はサーフィン.

鳥

食べ物を持っていると思うのか,鳥がすーっと近寄ってきました.万国共通.

鳥2

明らかにこちらを視野に収めているくせに,素知らぬフリをしている様子.微妙な間合いに.

日没

西海岸の日没

日没2

思ったよりは寒かったですが,温暖でした

ポスター発表会場

コンテスト

バンケットで開催される伝統のLimerick contest.理系的なノリの大喜利のような感じ.思いの外,爆笑に次ぐ爆笑.だがついていけない.

足跡

来年もやはりサンディエゴで開催されるようです.