50th IEEE Semiconductor Interface Specialists Conference (SISC)

概要

  • 日程:2019年12月12日〜12月14日
  • 会場:Bahia Resort Hotel, サンディエゴ,アメリカ合衆国
  • 参加者:長, 山末
  • 以下のポスター発表を山末が行いました
    1. K. Suzuki, K. Yamasue, and Y. Cho, A new evaluation technique for interface defect density on high-κ/SiO2/Si and SiO2/Si gate stacks using scanning nonlinear dielectric microscopy
    2. A. Hosaka, K. Yamasue, J. Woerle, G. Ferro, U. Grossner, M. Camarda, and Y. Cho, Interface defect density evaluation on macrostepped SiO2/SiC using local deep level transient spectroscopy based on scanning nonlinear dielectric microscopy

写真レポート

サンディエゴ都心部

諸事情で急遽参加することに.実は西海岸は初めてだったりします.

学会会場

学会会場からの光景.リゾート地です.

海軍基地

軍港でもありました.

海岸

会場近辺の砂浜.西海岸といえばこんなイメージかも.

フラッグ

左は水泳,右はサーフィン.

食べ物を持っていると思うのか,鳥がすーっと近寄ってきました.万国共通.

鳥2

明らかにこちらを視野に収めているくせに,素知らぬフリをしている様子.微妙な間合いに.

日没

西海岸の日没

日没2

思ったよりは寒かったですが,温暖でした

ポスター発表会場

コンテスト

バンケットで開催される伝統のLimerick contest.理系的なノリの大喜利のような感じ.思いの外,爆笑に次ぐ爆笑.だがついていけない.

足跡

来年もやはりサンディエゴで開催されるようです.